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以品質樹立品牌 南京芯測專注半導體測試設備
2022年09月27日 11:23:06
來源：化工儀器網 作者：羊舌木 點擊量：7308
南京芯測軟件技術有限公司專注打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統集成平臺。
【化工儀器網 本站速遞】芯片的電路與各類印制板電路一樣，PCB在制作過程中不同廠家，不同生產設備，都存在生產差異，甚至存在瑕疵或者缺陷。然而，芯片電路相比PCB電路，可以認為是微觀電路，在制造過程中，采用了更加微觀的印制刻蝕技術，存在制造缺陷與瑕疵也是在所難免。因此，芯片測試十足重要，甚至能夠影響芯片最終的成品。
南京芯測軟件技術有限公司(以下簡稱：南京芯測)專注打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統集成平臺。目前南京芯測主要研發在片測試系統設備經銷與晶圓在片測試軟件，產品包括手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經銷ESD測試系統、封裝及工藝檢測設備等。南京芯測服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業。
GP2000探針臺
GP2000探針臺
GP2000探針臺可輕松實現DC ~ THZ測量，能夠提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。一臺機器即可適配垂直探卡、裂片后的藍膜或多Site芯片測試。并且具有多孔吸附式載物臺設計，更好地兼容薄晶圓固定。
產品特點：
1.高品質顯微鏡搭配高分辨率CCD系統，可直觀了解扎針情況，提高扎針的準確性和效率；
2.可升級的高低溫系統，為芯片提供更 加成熟穩定的老化測試環境；
3.緊湊且可靠的機械設計 ，更適用于芯的測試及建模系統升級；
4.能夠根據未來需求，可提供多種升級 模塊，輕松實現功能升級；
5.短軸式拉桿設計，將更加符合新一 代芯片系統測試的需求。拉桿在任 意位置可停留、極限位置能快速鎖 定、分離位可固定，將進一步防止誤操作，提高測試效率，節省成本。
TS2000-IFE8英寸全自動RF|硅光|直流探針臺
TS2000-IFE8英寸全自動RF|硅光|直流探針臺
TS2000-IFE8英寸全自動RF|硅光|直流探針臺是一個自動化探針臺，可以從使用一開始或在測試領域內任何需要時轉換為帶有 Waferwallet MAX 的全自動探針臺。主要應用在負載拉動、RF、mmW、硅光子學、設計驗證(產品工程)或在定義的測試環境中測試MEMS和其他傳感器。
產品特點：
1. 集成電路設計驗證，在-60~300°C寬溫度范圍內的失效分析；
2.晶圓級可靠性擴展靈活性；
3.可編程顯微鏡運動，以更自動化和易于使用；
4.最大限度地減少毫米W和探測與主動探針的板到吸盤的距離；
5.簡單的晶片或單個DUT從前面加載；
6.完全集成Prober控制，能夠用于更快、更安全、更方便的系統和測試操作。
南京芯測的目標是成為國內晶圓級在片測試，器件測量系統軟硬件的相當精良的供應商，以滿足國內用戶需求。在接下來的時間里，南京芯測也將繼續開發半導體測試設備和系統集成軟件定制化服務，為用戶帶來更好的產品體驗。
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