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6433P光波元件分析儀

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上海昊量光電設備有限公司  
Aunion Tech Co., Ltd
專業源自專注  專注成就未來

自2008年成立以來,昊量光電專注于光電領域的技術服務與產品經銷,致力于引進guo外*先進性與創新性的光電技術與可靠產品,為國內Z前沿的科研與工業領域提供優質的產品與服務,助力中國智造與中國創造! 目前,昊量光電已經與來自美國、歐洲、日本的多家光電產品制造商建立了緊密的合作關系。其代理品牌均處于相關領域的發展前沿,產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、精密光學元件等,所涉足的領域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究與國防等。

昊量光電堅持“專業源自專注,專注成就未來”的經營理念。近年來,我們專注于前沿的細分市場,為量子光學、生物顯微、物聯傳感、精密加工、先進激光制造等領域的客戶提供系統解決方案。

作為一家以技術溝通與技術服務見長的高科技企業,我們所有的銷售與技術服務團隊成員都具有理工科方面的專業背景,并在公司接受相關領域的專業培訓,在售前技術溝通、售后產品安裝培訓、產品問題解決、軟硬件增值服務等方面為客戶提供更加專業化的服務!我們專業高效的商務與物流部門憑借多年積累的貿易經驗與規范化的制度流程,保障每一筆訂貨準時安全到達目的地,免除客戶的后顧之憂!

秉承誠信、高效、創新、共贏的核心價值觀,昊量光電堅持以誠信為基石,憑借高效的運營機制和勇于創新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創造價值,實現各方共贏!

立足于光電產業,昊量光電始終堅持價值創造與創新,贏得客戶與合作伙伴的認可,不斷拓展業務領域的新邊疆,立志打造的代理服務品牌!



激光器調制器,激光測量加工設備,光學部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統掃描系統,探測器光子計數器,專用實驗設備,相機

價格區間 1萬-5萬 應用領域 綜合
組件類別 光學元件

6433P光波元件分析儀

(調制頻率范圍覆蓋: 10MHz~110GHz


一、6433P光波元件分析儀概述

6433P 光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調制特性測試的儀器,頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz,集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式,6433P 光波元件分析儀具有對數/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式,能夠精確測量光電網絡的幅/相頻特性,主要應用于高速電光器件(電光強度調制器、直接調制激光器、光發射組件)、光電器件(探測器、光發射組件、探測器芯片)及光光器件(光衰減器、EDFA)的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數的測試。



二、6433P 光波元件分析儀產品特點



  • 10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋;

  • 頻率分辨率1Hz;

  • 測試功能豐富,具備傳輸、反射等多種參數測試功能;

  • 一體化多功能測試界面;

  • 向導式校準及一鍵式快速掃頻測試;

  • 多窗口顯示及快速分析;

  • 自動夾具移除,快速獲取探針數據;具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集,可實現自動測試



三、6433P 光波元件分析儀功能描述



  • 10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋

6433P 光波元件分析儀調制頻率高達110GHz,頻率分辨率為1Hz,可實現高速寬頻帶光器件及光芯片調制特性測試


  • 一體化多功能測試向導界面

6433P 光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測量模式,功能模式之間可任意切換,可滿足光器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。一體化多功能界面方便用戶快速完成測量模式、光波參數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入等參數的設置。


  • 向導式校準及一鍵式測試

6433P 光波元件分析儀進行微波域的電電校準及光波域的光路校準時,采用向導式校準,方便用戶對儀器進行快速校準,獲得被測件準確的測試結果。同時采用一體化集成設計方案,利用核心算法,實現電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測試。


  • 多窗口快速顯示及分析

6433P 光波元件分析儀支持64個測量通道,32個測量窗口,每個窗口可同時顯示16條測試軌跡,可實現結果的多窗口、多格式顯示。

高分辨率多點觸控電容屏可快速實現各種輸入和選擇操作,快捷高效,便于用戶快速分析數據,為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體驗。


  • 自動夾具移除,快速獲取探針數據

6433P 光波元件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解決光芯片S參數測試難題。測試時,將高頻探針等效為夾具,通過自動夾具移除功能測量高頻探針的時域參數,利用信號流圖提取頻域參數,形成s2p文件,進而通過射頻去嵌入,實現光芯片的高精度S參數測試。

四、6433P 光波元件分析儀產品參數


五、6433P 光波元件分析儀典型應用


  • 單端光器件測試

針對電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數和S21參數測試,利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性;針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數和S21參數測試,利用光標功能可快速分析3dB帶寬,評估器件的頻響特性;針對光纖濾波器等光光器件的S21參數測試,可快速實現損耗、平坦度等指標的測量。

幅頻特性測試)


利用儀器提供的多種顯示模式,可實現相位、群時延等信息的顯示,可快速實現相頻特性等指標的測量。

(相頻特性測試)


  • 平衡光器件測試

光波元件分析儀通過配置四端口機型,實現平衡光發射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數的測試需求,更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。


  • 光芯片在片測試

6433P 光波元件分析儀搭配探針臺及高頻探針,可實現電光/光電芯片的頻響參數的測試。

  • 自動化測試

6433P 光波元件分析儀提供標準的SCPI程控指令集,方便用戶進行遠程控制。通過網口,只需完成設備的互聯,發送命令即可實現一體化的自動測試方案,方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統。





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