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LTS系列 國產納米級白光干涉測厚儀

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 無錫泓川科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 LTS系列
  • 產地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2025/5/27 9:45:43
  • 訪問次數 137

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無錫泓川科技有限公司產品與服務簡介

無錫泓川科技有限公司深耕精密測量領域,致力于成為智能傳感解決方案服務商。依托自主核心技術研發能力,我們專注于為工業自動化、智能制造及科研領域提供高精度、高可靠性的傳感測量產品及定制化解決方案。

核心產品矩陣
公司自主研發并量產以下系列傳感器,覆蓋多元測量場景需求:

超高精度激光測距傳感器:適用于遠距離、非接觸式微米級超高精度測距;

激光位移傳感器:實現微米級精度位移檢測,滿足動態測量需求;

光譜共焦位移傳感器:突破傳統光學限制,應對高反光、透明材質等復雜表面測量挑戰;

同軸光位移傳感器:集成化設計,適用于狹小空間精密定位;

激光測振動傳感器:實時捕捉設備振動頻譜,賦能預測性維護;

白光干涉測厚儀:納米級精度,測量超薄透明薄膜涂層厚度;

超聲波傳感器:抗干擾性強,適用于粉塵、油污等惡劣工況;

3D線激光位移傳感器:三維輪廓掃描專家,為表面缺陷檢測、逆向工程提供高效工具。

技術優勢與場景賦能
泓川科技以“精準感知·智控未來”為理念,構建了從底層光學設計、信號處理算法到工業級軟硬件集成的全棧技術體系。產品已通過ISO9001質量體系認證及CE、RoHS等國際標準,廣泛應用于新能源汽車電池檢測、半導體封裝定位、機械臂軌跡校準、軌道件質檢等制造場景,助力客戶實現工藝優化與質量管控升級。

定制化服務承諾
我們提供從傳感器選型、系統集成到數據可視化的全流程服務,支持客戶個性化需求開發。技術團隊具備十年以上行業經驗,可針對復雜工況設計抗干擾方案,確保測量系統穩定運行。目前已為30+國家/地區的500余家客戶提供專業服務,典型案例包括為某國際汽車廠商打造毫米波雷達裝配線在線檢測系統,良品率提升18%。

合作共贏
誠邀制造業伙伴、系統集成商及科研機構攜手合作,共同探索智能測量新邊界。

激光位移傳感器,激光測距傳感器,光譜共焦傳感器,激光測振傳感器

產地類別 國產 價格區間 面議
應用領域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

LTS系列干涉測厚傳感器全面產品介紹

國產納米級白光干涉測厚儀

一、產品概述

  LTS系列白光干涉測厚儀基于白光干涉原理,專為薄膜、涂層厚度測量設計,具備納米級精度、超快采樣速度及寬范圍適應性,適用于半導體、新能源、光學薄膜等高duan制造領域。

  

二、白光干涉測厚儀的核心優勢(產品亮點)

  超高精度
  重復精度達 1nm,線性誤差 ±20nm,實現納米級厚度測量。
  非接觸式測量,避免接觸損傷樣品表面。
  超快速度與寬范圍
  最高 10kHz 采樣頻率,滿足高速動態測量需求。
  超大測厚范圍:常規型號厚度測量范圍 1μm~2500μm(折射率 1.5 時),適配不同薄膜厚度場景。
  環境適應性強
  抗干擾能力強,不受電磁干擾影響。
  寬范圍工作距離,部分型號建議安裝距離 5-10mm,兼容復雜工況。
  零發熱探頭設計:探頭內部無電子元件,避免發熱導致的夾具變形和光軸偏移,確保長期穩定測量。
  光源技術升級
  超高亮度彩色激光光源:通過藍光激發熒光體生成多色光,較傳統白色 LED 光源,發光波段更廣、亮度更穩定,提升干涉信號解析精度。國產納米級白光干涉測厚儀

  

三、測量原理

  利用白光干涉現象:
  光源發射:白色點光譜經干涉探頭照射到樣品表面,薄膜上下表面反射光(反射光 1、反射光 2)產生相位差,形成彩色干涉條紋。
  信號解析:通過解析干涉條紋的相位差與光程差關系,計算薄膜厚度(厚度與相位差直接相關)。
  非接觸測量:無需接觸樣品,通過光譜信號處理實時獲取厚度值。

  

四、白光干涉測厚儀的技術參數與型號配置


型號LTS-100LTS-100WLTS-50LTS-50W
適配探頭LTP-T50(聚焦光點,Φ100μm)LTP-T10-UV-VIS(彌散光斑,10mm 距離時 Φ4mm)LTP-T50LTP-T10-UV-VIS
參考距離50mm非聚焦探頭50mm非聚焦探頭
測量范圍±2mm(厚度:2μm~100μm,折射率 1.5 時)建議安裝距離 5-10mm(厚度:1μm~50μm,折射率 1.5 時)±2mm建議安裝距離 5-10mm
精度指標重復精度 1nm,線性誤差 ±20nm重復精度 1nm,線性誤差 ±20nm重復精度 1nm,線性誤差 ±20nm重復精度 1nm,線性誤差 ±20nm
測量角度±3°±10°±3°±10°
采樣頻率最高 10kHz最高 10kHz最高 10kHz最高 10kHz
探頭規格Φ30×58mm,90g,IP40 防護Φ6.35×65mm,輕量化設計Φ30×58mm,90g,IP40 防護Φ6.35×65mm,輕量化設計
接口Ethernet(100BASE-TX)、USB2.0、RS-485(Modbus 協議)同左同左同左
電源24VDC±10%,電流 0.4A同左同左同左
工作環境溫度 0~50℃,濕度 20~85% RH(無冷凝)同左同左同左

  



五、典型應用場景

  電子行業:觸摸屏 ITO 膜厚測量、UTG 超薄柔性玻璃厚度檢測。
  新能源:鋰電隔膜厚度在線監測、光伏薄膜均勻性檢測。
  材料科學:PET 多層膜材厚度分層測量、光學涂層厚度控制。
  精密制造:半導體晶圓薄膜沉積厚度監控、微納結構表面形貌分析。

  

六、配套支持

  軟件與開發:
  上位機軟件 TSConfocalStudio,支持實時數據顯示與分析。
  提供 C++/C# 二次開發包,便于集成至自動化產線。
  硬件適配:
  支持編碼器觸發與脈沖 / 電平觸發輸入,兼容多種工業控制信號。
  模擬信號輸出(±10V 電壓 / 4~20mA 電流)與數字信號輸出(警報、比較器),滿足不同設備接口需求。

  

七、白光干涉測厚儀的設計亮點

  緊湊輕量化:最小探頭直徑僅 6.35mm,適合狹小空間安裝。

  光纖設計:光纖接頭預留距離 100mm,靜態 / 動態彎曲半徑分別為 30mm/60mm,

                       提升布線靈活性。

  長期穩定性:無發熱探頭結構,避免溫度漂移影響,確保高精度持續測量。

  

總結

  LTS系列干涉測厚傳感器以納米級精度、超快響應和高可靠性,成為薄膜厚度測量的理想選擇,廣泛應用于高duan制造的質量控制與工藝優化,助力客戶實現精密測量與生產效率提升。




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