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致茂Model 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
  • 品牌 Chroma/致茂
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2025/5/12 11:43:19
  • 訪問次數(shù) 133

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深圳市新瑪科技有限公司致力于電子測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域?yàn)榭蛻籼峁┑臏y(cè)試和高效的解決方案和全面的系統(tǒng)服務(wù),提供通用測(cè)試產(chǎn)品,示波器、邏輯分析儀、信號(hào)源、交流、直流電源、數(shù)據(jù)采集器、交流、直流電子負(fù)載儀和頻譜分析儀、安規(guī)測(cè)試、 電能質(zhì)量分析儀以及數(shù)字萬用表、功率分析儀、熱成像儀、絕緣電阻測(cè)試儀。包括全套電磁兼容EMC測(cè)試和EMC整改的解決方案,專業(yè)提供電磁兼容測(cè)試系統(tǒng),電磁干擾EMI抗干擾EMS診斷系統(tǒng),并提供專家級(jí)的技術(shù)和咨詢服務(wù)。為各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域提供創(chuàng)新服務(wù)模式涵蓋測(cè)試儀器銷售、 計(jì)量校準(zhǔn)、維修維護(hù)以及面向企業(yè)級(jí)客戶端的系統(tǒng)集成服務(wù),產(chǎn)品覆蓋通信、工業(yè)電子制造、新能源、微電子、 航空航天,科研院所大學(xué)等行業(yè), 我們嚴(yán)格遵循以合格的產(chǎn)品去服務(wù)于客戶,幫助客戶選擇適合的解決方案。

隨著中國(guó)市場(chǎng)越來越多的進(jìn)口設(shè)備進(jìn)入中國(guó)在中國(guó)每年有數(shù)量眾多的技術(shù)*,價(jià)格昂貴的設(shè)備因?yàn)闆]有合理的配備而閑置,對(duì)于每一個(gè)面對(duì)競(jìng)爭(zhēng)的企業(yè)來說,這種浪費(fèi)是致命的,我們認(rèn)為我們必須了解客戶的需求,將行業(yè)內(nèi)眾多成熟的方案幫助中小型技術(shù)企業(yè)客戶實(shí)現(xiàn)合理的配置同時(shí)提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性,并降低產(chǎn)品開發(fā)成本和生產(chǎn)成本。

新瑪通過與Agilent、Fluke、Tektronix、Pacific、HIOKI、Yokogawa、Rohde-schwarz等廠商的合作,為客戶提供產(chǎn)品應(yīng)用解決方案、計(jì)量校準(zhǔn)、維修維護(hù)和科技資產(chǎn)外包管理等綜合服務(wù)。
      新瑪通過與業(yè)務(wù)伙伴的緊密合作,憑借便捷的進(jìn)貨渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),為客戶提供專業(yè)的產(chǎn)品選型、技術(shù)支持、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試等快捷的本地化服務(wù),成為電子測(cè)試領(lǐng)域的綜合服務(wù)商。


示波器,電子負(fù)載,熱像儀,邏輯分析儀,頻譜分析儀,數(shù)據(jù)采集器,安規(guī)綜合測(cè)試儀,交直流電源,電磁兼容EMC測(cè)試和EMC整改的解決方案,

致茂Model 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀產(chǎn)品特色

致茂Model 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀

●500VA輸出

●Floating輸出設(shè)計(jì),符合EN50191要求

●Corona電暈放電偵測(cè)(19055-C)

●Flashover電氣閃絡(luò)偵測(cè)

●BDV崩潰電壓分析

●HFCC高頻接觸偵測(cè)

●OSC開短路偵測(cè)

●GFI人體保護(hù)電路

●標(biāo)準(zhǔn)RS232&HANDLER界面

●可選購GPIB界面

●不良時(shí)面板鎖定功能

●可程序電壓輸出及測(cè)試限制值

●支持A190301高壓掃描治具

致茂Model 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀功能

致茂Model 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀

●耐壓測(cè)試

●交流5kV/100mA

● 直流6kV/25mA

●絕緣電阻測(cè)試

●5kVmax

●1MΩ~50GΩ

Chroma 19055耐壓分析儀為針對(duì)耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。其具備500VA大功率,最大輸出交流5kV/100mA,符合大功率耐壓測(cè)試需求,以及符合EN50191的設(shè)備要求(詳細(xì)信息請(qǐng)參考應(yīng)用文件)。

19055-C系列除了基本的交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試外,加入新研發(fā)的電暈放電偵測(cè)功能(Corona Discharge Detection,CDD),可經(jīng)由崩潰電壓分析(BreakdownVoltage Analysis)分別檢出:

·電暈放電啟始電壓(Corona discharge Start Voltage,CSV)

·電氣閃絡(luò)啟始電壓(Flashover Start Voltage,FSV)

·絕緣崩潰電壓(Breakdown Voltage,BDV)

對(duì)于測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題,除原有OSC開短路偵測(cè)(Open Short Check)外,新增高頻接觸檢查(High Frequency Contact Check,HFCC),高壓輸出前進(jìn)行接觸檢查,提升測(cè)試可靠度與效率。

為體貼使用者,Chroma19055置入大型LCD顯示屏幕,方便操作與判斷。加入GFI人體保護(hù)電路以及Floating安全輸出設(shè)計(jì),保護(hù)操作人員的安全,讓您在操作時(shí)無后顧之憂。

量測(cè)技術(shù)

耐壓測(cè)試絕緣崩潰(BREAKDOWN) /電氣閃絡(luò)(FLASHOVER) /電暈放電偵測(cè)技術(shù)(CORONA)

何謂耐壓不良大部份的電氣安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)敘述為"During the test, no flashover or breakdown shall occur",意指在耐壓測(cè)試中,不得有電氣閃絡(luò)或絕緣崩潰發(fā)生。但現(xiàn)今絕緣失效(Failure)及放電(discharge)已成為各類絕緣材料或耐壓零組件最重視的議題。由于放電與絕緣能力之間具有很高的相關(guān)性,所以放電偵測(cè)不僅是安全議題,更是控制產(chǎn)品質(zhì)量的主要關(guān)鍵。若依材料放電的性質(zhì)來分類,放電可分為三種:電暈放電(Corona discharge)、火花放電(Glow discharge)、電弧放電(Arc discharge)。

電暈放電(Corona Discharge)

當(dāng)二電極間承受較高電壓時(shí),電場(chǎng)強(qiáng)度相對(duì)較大,當(dāng)此作用大于氣體之電離位能(lonization Potential),于材料表面氣體發(fā)生瞬時(shí)離子化的現(xiàn)象,此時(shí)會(huì)有可見光出現(xiàn)以及溫升現(xiàn)象。長(zhǎng)期的電暈放電與溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變(Qualitative Change),進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化(Insulation Deterioration),使得絕緣耐受程度下降,最終發(fā)生絕緣失效。圖1為電暈放電示意圖。由于電暈放電會(huì)產(chǎn)生高頻的瞬時(shí)放電,是可以用高頻電量量測(cè)的方式偵測(cè)。

致茂Model 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀

火花放電(Glow Discharge)及電弧放電(Arc Discharge)

絕緣材料內(nèi)部或表面因高電壓產(chǎn)生電氣放電,待測(cè)物失去原有之絕緣特性,形成瞬時(shí)或非連續(xù)性放電,嚴(yán)重者會(huì)導(dǎo)致碳化產(chǎn)生導(dǎo)電通路或產(chǎn)品傷害。如右圖2可知,瞬間瞬時(shí)的放電并無法以漏電流量判定檢出不良,須以測(cè)試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)偵測(cè)為高壓測(cè)試的檢測(cè)項(xiàng)目之一。

針對(duì)不同放電的環(huán)境,Chroma 19055提供對(duì)應(yīng)的放電特性偵測(cè)技術(shù),包含電暈放電(Corona)偵測(cè)(19055-C only),電氣閃絡(luò)(ARC/Flashover)偵測(cè)以及漏電流判定(絕緣破壞Breakdown),這些功能可成為研發(fā)或品保單位在耐壓測(cè)試與分析時(shí)的最佳利器。

崩潰電壓分析(BREAKDOWN VOLTAGE ANALYSIS,BDV)被動(dòng)組件的高壓耐受程度(withstanding voltage)決定于材料及制程。為提升組件的絕緣質(zhì)量及能力,需要分析放電的程度,其包含電暈放電(Corona discharge)、電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)及絕緣破壞(Breakdown)的耐受程度。Chroma 19055耐壓分析儀新增崩潰電壓分析(Breakdown Voltage Analysis,BDV)功能。經(jīng)由設(shè)定爬升的啟始電壓、結(jié)束電壓、次數(shù)及時(shí)間,進(jìn)行放電程度分析。

崩潰電壓分析(Breakdown Voltage Analysis,BDV)功能提供三階段判斷方式,可設(shè)定電暈放電檢測(cè)(Corona limit)、電氣閃絡(luò)檢測(cè)(Flashover/ARC)、絕緣崩潰檢測(cè)(Breakdown, high limit)。當(dāng)測(cè)試中有不良出現(xiàn)時(shí),Chroma 19055會(huì)依放電不同階段的限制值,顯示出耐壓強(qiáng)度(withstanding voltage),其分別代表電暈放電啟始電壓(Corona discharge Start Voltage,CSV)、電氣閃絡(luò)啟始電壓(Flashover Start Voltage,FSV)以及絕緣崩潰電壓(Breakdown Voltage,BDV)。藉由這些測(cè)試結(jié)果,研究人員可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分析與研究,針對(duì)組件絕緣較弱的部份進(jìn)行改善。

防止產(chǎn)品測(cè)試時(shí)接觸失敗高頻接觸檢查(HFCC)&開短路偵測(cè)(OSC)高頻接觸檢查功能(High Frequency Contact Check,HFCC)是Chroma新研發(fā)的接觸檢查技術(shù)。HFCC設(shè)計(jì)在AC/DC耐壓測(cè)試項(xiàng)目之中,當(dāng)耐壓測(cè)試進(jìn)行時(shí),一并檢查是否有接觸不良的問題。HFCC之測(cè)試頻率提高至約500KHz,可大幅提升接觸檢查的準(zhǔn)確度,并有效提升產(chǎn)線生產(chǎn)效率。

在耐壓測(cè)試過程中若發(fā)生開路現(xiàn)象,會(huì)導(dǎo)致不良品誤判為良品;若發(fā)生短路現(xiàn)象,可提早得知并篩選,減少對(duì)治具設(shè)備的傷害,節(jié)省測(cè)試成本。

一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx),在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)uF之間,一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量(圖4.2之Cc),一般低于10pF,而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象。而當(dāng)待測(cè)物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正?,F(xiàn)象。因此可利用電容量變化之上下限值判斷,減少產(chǎn)線接觸不良的問題發(fā)生。

致茂Model 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀

人員安全保護(hù)設(shè)計(jì)輸出電路功能(FLOATING OUTPUT)與接地失效中斷(GROUND FAULT INTERRUPT, GFI)安規(guī)測(cè)試的目的是為了保護(hù)產(chǎn)品用戶的安全。而當(dāng)作業(yè)員在操作儀器時(shí),也需要儀器的保護(hù)設(shè)計(jì)。Chroma 19055擁有二種作業(yè)員保護(hù)安全設(shè)計(jì)供選擇,分別為浮接輸出(Floating Output)及接地失效中斷(GFI)設(shè)計(jì)。

為了讓測(cè)試人員能安全無慮的使用安規(guī)測(cè)試設(shè)備,Chroma以全新技術(shù)研發(fā)Floating 輸出電路,并符合EN50191設(shè)備安全標(biāo)準(zhǔn)。在Floating輸出的狀態(tài)下,對(duì)地具有高阻抗,無論測(cè)試人員碰觸到任何耐壓測(cè)試端子,接地的漏電流iu皆不會(huì)大于3.5mA,測(cè)試人員不會(huì)受到電氣傷害。如圖5所示。

GFI 功能為另一項(xiàng)人體保護(hù)電路。如圖6可知,可由電流表A1及A2分別得到i1及i2;當(dāng)操作人員觸電時(shí),電流表分別測(cè)得不同數(shù)值,其差異為i1-i2=ih,當(dāng)in過高時(shí),即判定為GFI不良,并會(huì)立即切斷輸出訊號(hào),保障用戶的安全。

產(chǎn)品應(yīng)用

Chroma 19055-C耐壓分析儀具備電暈放電偵測(cè)功能(CDD),進(jìn)行電暈放電偵測(cè),降低客訴發(fā)生率。并可使用崩潰電壓分析功能(BDV)尋找產(chǎn)品的電暈放電啟始電壓(CSV)、電氣閃絡(luò)啟始電壓(FSV)及絕緣崩潰電壓(BDV),對(duì)于產(chǎn)品研發(fā)階段的絕緣能力驗(yàn)證,以及產(chǎn)品制程的可靠度,提供參考的數(shù)據(jù)。

常態(tài)電壓下電暈放電檢測(cè)

變壓器:當(dāng)電子產(chǎn)品在常態(tài)電壓使用時(shí),若內(nèi)部初級(jí)電路絕緣不良,導(dǎo)致初級(jí)端的繞組長(zhǎng)期處于電暈放電狀態(tài),在經(jīng)過一段時(shí)間后,必然會(huì)影響絕緣能力。電源變壓器就是一個(gè)例子,目前部份電源變壓器之設(shè)計(jì),多會(huì)保留一組參考線圈予其他電路使用,如圖7.2所示,在長(zhǎng)期的Vpk=750V下,當(dāng)制作工藝不良,如絕緣膠帶加工不良,套管不良等,導(dǎo)致持續(xù)性電暈性放電發(fā)生,初級(jí)繞阻間的絕緣能力將會(huì)有所影響,進(jìn)而漆包碳化而燒毀。

馬達(dá):旋轉(zhuǎn)電機(jī)類產(chǎn)品如工業(yè)用馬達(dá)或電動(dòng)車用馬達(dá)等,由于使用時(shí)間較長(zhǎng)且使用環(huán)境溫濕度變化大,需求高耐用性與可靠度。溫度與濕度也是影響絕緣的要素,若在線圈與線圈間,及線圈對(duì)鐵心發(fā)生電暈放電,將導(dǎo)致長(zhǎng)期的溫升與材料質(zhì)變化,導(dǎo)致絕緣劣化。在耐壓測(cè)試中加入電暈放電測(cè)試功能,提高對(duì)絕緣質(zhì)量的要求,可找出絕緣能力較不佳的產(chǎn)品,有效降低因長(zhǎng)期使用而發(fā)生的不良機(jī)率。

電容器/絕緣材料之高壓耐受性測(cè)試:高壓耐受性測(cè)試常使用在高壓電容器,安規(guī)電容器、以及絕緣材料之驗(yàn)證。當(dāng)絕緣介質(zhì)間因制程導(dǎo)致裂痕或含有氣泡時(shí),一旦進(jìn)行耐壓測(cè)試,將形成不同的電場(chǎng)狀態(tài),進(jìn)而發(fā)生電暈放電現(xiàn)象。長(zhǎng)期將導(dǎo)致介質(zhì)狀態(tài)變化,而絕緣不良,發(fā)生質(zhì)量議題。



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