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污水有害元素檢測儀
Delta型DP4050重金屬分析儀用途及應用領域
1、快速普查超大范圍的重金屬污染區，有效地測定污染模式，繪制污染圖、實時勘察。
2、發現異常狀況，做到優先治理重污染區。
3、現場快速追蹤污染異常，有效地尋找“熱點”地帶，圈定污染邊界。
4、Innov-X便攜式XRF分析儀在土壤中金屬成份檢測方面符合EPA Method6200。
5、在空氣過濾介質、灰塵抹布的合鋁方面符合NIOSHMethod7702，OSHAMethodsOSSAl，OSSl。
6、污染水、廢水中污染金屬成份、污染模式、污染邊界的迅速調查與測量。
7、現場監測RCRA所涉及的金屬和優先控制的污染金屬。
8、原土地、污染水、廢水、等有害物質的現場處置小化處理并給污染控制、補救方法的深度分析提供理論依據。
9、因環境污染而導致的疾病與很多重金屬元素有關，如：癌癥(Ni,Cr)、 腎病(As,Pb)、肝病(As,Cu)、肺塵癥(Fe)、哮喘(Ni）帕金森氏綜合癥(Mn)。污水有害元素檢測儀
Delta型DP4050重金屬分析儀技術規格
型號 | DP4050 |
尺寸/重量/外形 | 外形尺寸：245x250x88mm；重量≤1.6KG；亮黃 黑色、銀白色相間 |
環境要求 | 環境濕度0~95%；工作環境溫度-20℃ ~50℃ |
激發源 | 大功率微型直板電子X射線管，內置15kV~50kV多段可選擇的電壓；無壓電纜、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽、更好的散熱。 |
電壓 | 激發電壓為50kv,保證對重金屬元素有好的激發效率。 |
射線管靶材 | Au靶 |
探測器 | 性能SDD探測器，面積不小于30mm2，保證對熒光的接收效率 |
X射線探測器 | 性能，精度，靈敏度超大型SDD硅漂移探測器,對重金屬元素檢測下限降到低 |
冷卻系統 | 采用了Peltier恒溫冷卻系統，控測器在-35℃下工作，保證儀器的檢測精度，和不受外界溫度的影響 |
濾波器 | 性能濾光片系統，8個位置的濾波輪，自動優控制。 |
多光束技術 | 三個光束段，不同的元素采用不同的電壓與電流，產生好的分析效果。 |
元素分析范圍 | 標準配置P、S、Cl、K、Ca、、V、Cr 、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Rb、Hg、Sr、Zr、Mo、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、W、Pb、Te、Tl、U、Th、I、等34種元素,可按客戶需求添加。 |
主機供電系統 | 兩節通用型充電鋰離子電池，配置智能充電接駁座，可同時對兩節電池充電，使儀器不間斷工作 |
氣壓補償 | 內置氣壓計，不同海拔可以自動補償，當戶外或地下操作時不用進行校正，檢測結果更加 |
加速器 | 內置的加速器可探測運動和震動，使儀器不用時待機，拿起時工作 |
智能接駁座 | 可對兩節電池同時充電并顯示充電進度，可使儀器與電腦連接并交換數據 |
熱插拔技術 | 更換電池無需關機，使儀器不間斷工作 |
平衡性 | 儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上，無需手扶，一鍵式按鈕設計，即使長時間操作也無疲勞感 |
散熱性 | 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計，儀器頂部有的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩定，從而故障率極低 |
顯示器 | 工業級分辨率TFT VGA卡西歐 BlanView® 觸摸顯示彩屏，帶LED背光；像素240×320 |
整機設計 | 整機一體化設計，PDA不可拆卸,使儀器具備工業級三防性能，防塵,防霧,防水,，可承受惡劣的工作環境從而使儀器故障率極低 |
數據顯示 | 百分比（%）顯示元素含量，元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統計多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態顯示化學成份 |
數據存儲 | 可存儲20萬組數據與光譜 |
數據傳輸 | USB電纜、無線藍牙進行數據傳輸，文件可采用TXT,EXCEL格式輸出。 |
處理器CPU | 533 MHz ARM 11 CPU、500 MHz 雙核DSP數字信號處理器，浮點運算方式，速度大幅提 |
遠程維護功能 | 可通過計算機對儀器實現遠程操控，并能進行上傳下載、數據和譜圖處理、編輯、輸出分析報告。 |
操作系統 | 儀器采用WindowsCE操作系統，非內置固化操作系統，無PDA式控制，增加儀器的智能化和擴展性 |
攝像頭 | 儀器內置清CCD彩色攝像頭，能使用戶準確觀察、定位拍照分析部位，能自動記錄檢測部位，并與分析結果一起存儲 |
安全保護 | 儀器可設置操作員密碼 |
輻射安全防護性能 | 具有明顯的射線開啟警示燈，并具有自動保護裝置,窗口前無被測物時，啟動的儀器會在2秒后自動停止測試 |
光譜查看功能 | 不必借助電腦，可在現場,在顯示屏上直接隨意，查看，放大、縮小相關元素的光譜圖 |
生成報告 | 可自動生成固定格式的報告，內容不可修改，保證數據的客觀性。 |
Delta型DP4050重金屬分析儀在SiO2不同元素的檢測下限
Delta DP4050在SIO2下的120秒檢測下限（PPM） | |||
元素 | Delta DP4050 （LOD） | 元素 | Delta DP4050 （LOD） |
P | 100 - 110 | Se | 1~3 |
S | 80 - 100 | Rb | 1 |
Cl | 40 - 60 | Sr | 1 |
K | 30 - 50 | Zr | 1 |
Ca | 20 - 30 | Mo | 1 |
| 7~15 | Ag | 6~8 |
Cr | 1~3 | Cd | 1~3 |
Mn | 3~5 | Sn | 11~15 |
Fe | 3 | Sb | 12~15 |
Ni | 4~6 |
| 5~7 |
Cu | 2~4 | Hg | 2~4 |
Zn | 3~5 | Pb | 2~4 |
As | 1~3 | Mg | ~1.0% |
Al | 0.5% | Si | 0.50% |
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