近期，歐洲計量創新與研究計劃（EMPIR）的項目 “GRACE-石墨烯電學性測量的新方法”發布了關于石墨烯電學性測量方法的標準化指導手冊。“GRACE-石墨烯電學性測量新方法”項目是由英國國家實驗室(NPL)主導，與意大國家計量研究所、西班牙Das-nano 公司等合作，旨在開發石墨烯電學性的新型測量方法，以及未來石墨烯電學測量的標準化制定。

圖 石墨烯電學測量方法標準化指導手冊(發送郵件至info@qd-china.com獲取完整版資料)

圖二：GRACE項目合作單位

    石墨烯由于其*異的電學性，在未來有望成為大規模應用于電子工業及能源域的新材料。但是，目前受限于：1）如何制備大面積高質量石墨烯，且具有均勻和可重復的電氣和電子性能；2）無論是作為科研用的實驗樣品還是在生產線中的批量化生產，對其電學性質的準確且可重復的表征方法目前尚不完善，缺乏正確實施此類測量方法的指導手冊及測量標準。

    針對目前面臨的問題和挑戰，EMPIR 的“石墨烯電學性測量新方法”項目對現有測量方法進行了總結和規范指導，更重要的是開發了石墨烯電學性的快速高通量，非接觸測量的新方法，并用現有技術對其進行了驗證，取得了很好的致性。

圖三: 目前石墨烯電導率接觸式測量方法及新開發的非接觸式測量方法

    西班牙Das-Nano公司參與了“GRACE-石墨烯電學性測量新方法”項目中基于THz-TDS的全新非接觸測量方法的開發及測量標準的制定。基于該技術，Das-Nano推出了款可以實現大面積（8英寸wafer）石墨烯和其他二維材料的全區域無損非接觸快速電學測量系統-ONYX。ONYX采用體化的反射式太赫茲時域光譜技術（THz-TDS）彌補了傳統接觸測量方法（如四探針法- Four-probe Method，范德堡法-Van Der Pauw和電阻層析成像法-Electrical Resistance Tomography）及顯微方法（原子力顯微鏡-AFM, 共聚焦拉曼-Raman，掃描電子顯微鏡-SEM以及透射電子顯微鏡-TEM）之間的不足和空白。ONYX可以快速測量從0.5 mm²到~m²的石墨烯及其他二維材料的電學性，為科研和工業化提供了種顛覆性的檢測手段^[1,2]。

ONYX主要功能：

ONYX應用方向：

石墨烯	光伏薄膜材料	半導體薄膜	電子器件
PEDOT	鎢納米線	GaN顆粒	Ag 納米線

參考文獻：

[1] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).

[2] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020).