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當前位置:上海佳宜電子科技有限公司>>技術文章>>分析天平使用注意事項(四)
A) 磁性材料的影響
測量磁性材或磁化的樣品時,天平的構件會被磁化而吸引,聚焦線圈部位受磁場影響而不能正確測量。
B) 對磁性材的對策
將樣品與天平保持一定的距離:
用透磁合金等(透磁率高的軟磁性材料)覆蓋樣品,隔開磁場。
通過隔空稱量(天平下掛鉤稱量)擴大天平與樣品的距離。
在天平的器皿與樣品間放置無磁性的隔片,降低磁場的影響。
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