蔡司Axio Scope.A1 用于日常工作和研究的模塊化顯微鏡

蔡司Axio Scope.A1 用于日常工作和研究的模塊化顯微鏡

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每種組件十分靈活。配置方案成本經濟。

根據需求精確配置 Axio Scope.A1，5 種不同的上部部件、3 種不同下部部件和 2 種 Vario 支柱。使用 Axio Scope.A1 在相實驗中測量膜厚或使用透射光、反射光和熒光進行高難度檢測。僅需購買所需部件。

Axio Scope.A1 的模塊化接口設計可在材料顯微和相的應用要求變化時，很方便地增加組件。大多數組件可以自行安裝。

Axio Scope.A1 用途十分廣泛。您甚可以在單片中使用非接觸方法測試和分析大型三維樣品，通過墊片將 Axio Scope.A1 樣品空間擴大 110 mm 高。如果使用 Vario 支柱樣品空間甚可達 380 mm。

屬

相學

無論您是研發新型合材料還是進行質量控制以確保鋼純度，對相學實驗而言光學顯微鏡和電子顯微鏡必不可缺。對鋼中非屬夾雜物或晶粒分析等某些參數的測量都必須依據嚴格的標準和規范來執行。相學一般研究銅、鈦、鐵、鋼及多種合等屬。我們可以使用配有專業軟件模塊的自動顯微鏡系統對上述屬進行檢測以及定量分析。

觀察微觀結構

屬的顯微結構決定其強度和耐腐蝕等性能。因此，利用顯微鏡檢測微觀結構對冶學以及多種工業應用有著重要的意義。相學研究的微觀結構特征包括晶粒大小、晶界、相位、相變、體積分數、夾雜物、形態學及帶狀組織。

檢測預處理

對原料屬進行特殊處理以提高它們的性能，滿足特定用途，例如通過添加合元素來增強硬度。多數情況下，使用顯微鏡進行組織觀察主要運用于探究微觀結構與材料性能之間的關系。顯微分析借助于正置、倒置或偏光顯微鏡，利用明場、暗場觀察方式或者借助于電子顯微鏡。它們在樣品處理效果上起了重要的作用，可用于優化工藝參數。

選擇合適的觀察方式

反射光明場適合用于刻蝕表面的微觀結構分析。如識別晶界來檢測晶粒大小、相位及結構組份。而鑄鐵中石墨的雜質及結構成份分析，在樣品刻蝕前就可觀察到。反射光暗場則用于檢測機械表面缺陷，如斷裂部位、氣孔、夾雜物、裂紋、劃痕和凹處。使用偏光觀察方式可分析鎂、鋁、青銅和黃銅等各向異性材料的結構。使用掃描電子顯微鏡時，屬表面可能會被拋光和刻蝕（ 也可能不會），但必須具備導電性，因此，對于非導電材料必須鍍上一層很薄的屬膜。

檢測非屬夾雜物和污染物

原屬過程中的工藝控制旨在檢測鋼中非屬夾雜物（NMI）和材料中的污染物。如使用自動化光學顯微鏡，以真彩色快速且高效地掃描大樣品區域，并根據行業標準評估非屬夾雜物的含量。

關聯和記錄數據

在檢測過程中，您可以在光學顯微鏡下輕松觀察到樣品中的夾雜物；通過運用關聯顯微技術在掃描電子顯微鏡下收集更多的形態學分析數據。結合掃描電子顯微鏡中的EDS、WDS 或 EBSD 等 X 射線分析技術，對夾雜物的化學成份和結晶學取向進行高清晰的結構成像及獲取精準信息。

應用域包括

相研究在眾多行業，如常規屬和鋼鐵的，航空航天與汽車業，機械工程，建筑業及廣大工業和消費品行業的中，發揮著重要作用。