新材料顯微鏡徠卡dm2700m來自徠卡顯微系統是理想的顯微鏡，各種例行檢查任務，相，地球科學，取證調查，材料質量控制和研究。它為用戶提供了設備，的通用白光led照明用高品質的徠卡光學鏡頭。
超高亮度，高功率led照明，為用戶提供一個恒定色溫4500k明場，暗場，干涉相襯和偏光。此外，內置的斜照明技術，用戶可以體驗到更好的表面檢查細節。真彩色成像，可以得到所有的亮度強度水平和更低的擁有成本實現長壽命，低功耗的led照明技術。
直立材料顯微鏡通用led照明
該材料顯微鏡結合了高品質的徠卡光學與家的的通用白光led照明。它是理想的檢測工具，用于各種例行檢查任務，相，地球科學，取證調查，材料質量控制和研究。徠卡dm2700 m顯示你如何簡單而可靠的顯微鏡可以同時幫助改善工作流程。

Leica DM2700M 系列正置相顯微鏡（新產品，LED照明，明暗場，帶偏光）

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Leica DM2700M 系列正置相顯微鏡（新產品，LED照明，明暗場，帶偏光）

Leica DM2700 M - New Materials Microscope with LED Illumination

Published: 11.02.13

Leica DM2700 M - the new materials microscope with LED illumination

The ideal microscope for all kinds of routine inspection tasks in metallography, earth science, forensic investigation, and materials quality control and research.

The new materials microscope Leica DM2700 M from Leica Microsystems is the ideal microscope for all kinds of routine inspection tasks in metallography, earth science, forensic investigation, and materials quality control and research. It offers users a state-of-the-art universal white-light LED illumination with high-quality Leica optics.

The ultra-bright, high-power LED illumination provides users a constant color temperature of 4500 K for brightfield, darkfield, interference contrast and polarized light. In addition, users can experience improved surface inspection details with the built-in oblique illumination technology. Real color imaging can be obtained with all brightness intensity levels and lower cost of ownership is realized with the long lifetime and low power consumption of LED illumination technology.

徠卡DM2700M理想的例行檢查任務，相，地球科學，取證調查，材料質量控制和研究各種顯微鏡。
新材料顯微鏡徠卡DM2700M來自徠卡顯微系統是理想的顯微鏡，各種例行檢查任務，相，地球科學，取證調查，材料質量控制和研究。它為用戶提供了設備，的通用白光LED照明用高品質的徠卡光學鏡頭。
超高亮度，高功率LED照明，為用戶提供一個恒定色溫4500K明場，暗場，干涉相襯和偏光。此外，內置的斜照明技術，用戶可以體驗到更好的表面檢查細節。真彩色成像，可以得到所有的亮度強度水平和更低的擁有成本實現長壽命，低功耗的LED照明技術。
直立材料顯微鏡通用LED照明
該材料顯微鏡結合了高品質的徠卡光學與家的的通用白光LED照明。它是理想的檢測工具，用于各種例行檢查任務，相，地球科學，取證調查，材料質量控制和研究。徠卡DM2700 M顯示你如何簡單而可靠的顯微鏡可以同時幫助改善工作流程。
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Leica DM2700 M - New Materials Microscope with LED Illumination

The ideal microscope for all kinds of routine inspection tasks in metallography, earth science, forensic investigation, and materials quality control and research.

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