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首頁>>深圳市新瑪科技有限公司>>產品展示>>半導體C-V特性分析儀>>試驗系統

  • IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H 參考價：面議

    測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關閉引起的反復高溫...
    型號： 廠商性質：代理商所在地：深圳市 對比
    IOL間歇壽命試驗系統試驗系統HK-IOL-16H碳化硅器件參數測試儀IOL間歇壽命試驗系統
    2024/1/29 15:42:292223

  • IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統 參考價：面議

    IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統華科智源-功率循環老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方...
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    SIC碳化硅器件測試儀HUSTEC-3000HUSTEC碳化硅器件參數測試儀參數測試儀
    2024/1/29 15:40:262408
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