Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE 參考價：面議
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE——用于幾乎所有先進薄膜或產(chǎn)品晶片測量的先進多模計量FilmTek™ 2000標準桿數(shù)-SE...
Bruker FilmTek CD橢偏儀 參考價：面議
Bruker FilmTek CD橢偏儀——多模態(tài)臨界尺寸測量和先進薄膜計量學FilmTekTM CD光學臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設計節(jié)點及...
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV 參考價：面議
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSVFilmTek™ 2000M TSV計量系統(tǒng)為先進的半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系...
Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE 參考價：面議
Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SEFilmTek™ 6000標準桿數(shù)-SE先進的多模薄膜計量系統(tǒng)在1x nm設計節(jié)點和更高的...
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