在硅太陽能電池板的生產過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當這臺儀器被用作質量控制工具時，在后續加工成本發生之前，可以識別出低質量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質量的工具，使其能夠生產出較薄的硅片，降低了機械產量損失。
Hinds Instruments 的Exicor® 應力雙折射檢測系統PV-Si是Exicor雙折射測量系統系列產品的工作平臺的擴展。本系統采用高質量的對稱光彈性調制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光電二極管探測器，實現了光伏和半導體工業中硅材料的高精度雙折射測量，除硅外，還可測量藍寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用，可容納和測量直徑達8英寸的500毫米粗錠。臺面設計和直觀的自動掃描軟件使該產品成為原材料改進、研發和日常評估的選擇，也是對原始硅錠和其他高技術材料進行評估的選擇。
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