島津光譜儀的誤差究竟是什么原因造成的？

時間：2019/9/29閱讀：2481

　　島津光譜儀的測量準(zhǔn)確度很高，但測量的結(jié)果和實際上總有一些誤差，那么島津光譜儀的誤差究竟是什么原因造成的？下面一起來了解一下吧！

　　一、系統(tǒng)誤差的來源：
(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不*相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。

　　(2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不*相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。

　　(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。

　　(4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。

　　(5)要消除系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，就需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對結(jié)果。

　　我們常見的光譜儀包括哪幾個主要部分：

　　一、入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點。

　　二、準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

　　三、色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。

　　四、聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應(yīng)于一特定波長。

　　五、探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

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