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詳細(xì)摘要： NIGHTSY夜晚EL測試儀附件：AC適配器，電池充電器，電源線，可充電電池2個，USB線纜，肩帶，機(jī)身蓋，英語操作手冊，三角架，三角架手QIANG頭，堅固的便...

詳細(xì)摘要： SECULIFE NIBP多參數(shù)患者模擬器是具有微處理器的NIBP模擬設(shè)備中的產(chǎn)品，以多功能見長 它能提供：無創(chuàng)血壓，有創(chuàng)血壓,心電圖，溫度，心律不齊，呼吸，泄...

詳細(xì)摘要： SECUSTAR FM+可編程的測試測量系統(tǒng)可按照法規(guī)或企業(yè)特定工作流程進(jìn)行用戶自定義測試，比如按照：職業(yè)安全條例和醫(yī)療設(shè)備安全規(guī)范。

詳細(xì)摘要： SoC測試系統(tǒng)V93000 Wave ScaleArchitecturally advanced cards provide the high parallel...

詳細(xì)摘要： SoC測試系統(tǒng)V93000如今SOC/SIP產(chǎn)業(yè)一直對速度、性能、通道數(shù)量有著更高的要求，這就意味著測試系統(tǒng)要在提供更佳性能的同時要維持低成本。

詳細(xì)摘要： 掃頻測試系統(tǒng)結(jié)合Santec的TSL系列可調(diào)諧激光器與該光功率計（MPM-210或MPM-200）、數(shù)據(jù)模塊（PCU-100）和自定義軟件相組合，完整的掃描測試...

詳細(xì)摘要： A10-C衰減器測試部件阻性分壓器等測量傳感器輸出的信號進(jìn)行衰減，以滿足示波器直接采集信號之所用。

詳細(xì)摘要： A10衰減器測試部件阻性分壓器等測量傳感器輸出的信號進(jìn)行衰減，以滿足示波器直接采集信號之所用。

詳細(xì)摘要： 測試箱PA 300防止在測試過程中，被試部件發(fā)生爆炸、燃燒等現(xiàn)象時對人身造成傷害，本測試箱可匹配SG、S10、S20等系列發(fā)生器。

詳細(xì)摘要： 測試箱PA 350防止在測試過程中，被試部件發(fā)生爆炸、燃燒等現(xiàn)象時對人身造成傷害，本測試箱可匹配SG、S10、S20等系列發(fā)生器。

詳細(xì)摘要： VCF 80高壓差分探頭*EN/IEC 61000-4-5 校準(zhǔn)測量要求，也可用于壓敏電阻浪涌保護(hù)類器件鉗位電壓測量。

詳細(xì)摘要： CF 10殘壓分壓器測試部件當(dāng)采用50歐姆輸入阻抗時，輸出信號將衰減至一半。主要用于沖擊電流試驗時，對壓敏電阻、SPD等浪涌限制裝置的限制電壓進(jìn)行準(zhǔn)確測量。

詳細(xì)摘要： CF 5殘壓分壓器測試部件當(dāng)采用50歐姆輸入阻抗時，輸出信號將衰減至一半。主要用于沖擊電流試驗時，對壓敏電阻、SPD等浪涌限制裝置的限制電壓進(jìn)行準(zhǔn)確測量。

詳細(xì)摘要： MCS 3000控制軟件可通過RS232串口對S系列小型沖擊電流發(fā)生器以及SG系列浪涌發(fā)生器進(jìn)行遠(yuǎn)程控制操作，*的可編程操作模式使各種測試流程可任意設(shè)定，操作簡...

詳細(xì)摘要： MCS 2000控制系列主要應(yīng)用于LCG系列沖擊電流測試系統(tǒng)、LVG系列沖擊電壓測試系統(tǒng)，以FX2n系列邏輯控制器為核心，以大尺寸、全彩屏為人機(jī)交互界面，以大功...

詳細(xì)摘要： MAS 3000測量分析軟件利用計算機(jī)系統(tǒng)對采集到的波形數(shù)據(jù)進(jìn)行專業(yè)分析，自動計算波形參數(shù)，提供顯示、測量、打印等實用功能，適用于DUI沖擊電壓試驗和沖擊電流試...

詳細(xì)摘要： 全自動雷擊浪涌測試系統(tǒng)ICG UK50適用于II級、III級防雷器的測試。可用于生產(chǎn)線及產(chǎn)品開發(fā)等。 本設(shè)備標(biāo)配8/20μs/、10/1000μs/浪涌沖擊電流...

詳細(xì)摘要： 智能型沖擊電壓測試設(shè)備S6 V311不但滿足歐盟CE認(rèn)證及CCC認(rèn)證對單相受試設(shè)備的抗擾度測試要求，通過觸摸屏操作實現(xiàn)全自動控制測試。

詳細(xì)摘要： LVG系列全自動沖擊電壓測試系統(tǒng)用來提高同步放電性能,調(diào)波電阻為板形結(jié)構(gòu)，無感繞法,所有同步放電球也可以均裝在封閉的絕緣筒內(nèi)，并不斷地提供過濾空氣。

詳細(xì)摘要： TTS 20熱穩(wěn)定測試儀隨著使用時間的增加，浪涌保護(hù)器可能會由于材料老化等因素，導(dǎo)致漏電流增加，功耗增大，溫度升高,有可能引起自燃等現(xiàn)象。