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詳細介紹
GTEM750小室
- IEC 61000-4-3
- IEC 61000-4-20
- GB/T 17626.3
PPG3204 4 通道可編程碼型發生器 32 Gb/s - 配置與報價
LE320 32 Gb/s 9 抽頭線性均衡器 32 Gb/s - 配置與報價
相干信號生成 AWG70001A 系列任意波形發生器 以每秒 50 G 采樣率和 10 位分辨率生成波形
相干信號生成 PPG3000、PPG4000 系列可編程碼型發生器 數據速率高達 40 Gb/s，8 ps 上升時間
相干光調制 OM5110 多格式光發射機 雙偏振調制高達 46GBaud，采用自動偏置控制
相干光采集 OM4200 系列光調制分析儀 雙偏振相干檢測，45 GHz 模擬帶寬
相干光采集 OM70000 光調制系統 完整的系統能夠進行雙偏振相干檢測，70 GHz 模擬帶寬。 包括 70 GHz 示波器與 OM1106 分析軟件。
相干光采集 OM2210 相干光接收機校準源 C 波段和 L 波段光調制分析儀的校準
相干光采集 DPO70000SX 系列示波器 靈活采集，帶寬最高可達 70 GHz，采樣率可達 200GS/s
GTEM750小室構成的輻射敏感度（抗擾度）測試系統為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。測試系統構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監視器、計算機及操控軟件和GTEM 室體組成。
AWG70002A 2 8、9 或 10 位 高達 14 GHz 10 GHz 25 GS/s 16 GS/s 8 GS/s 2 GS - 8 GS（可選） - 配置與報價
| GETM型號 | GTEM250 | GTEM500 | GTEM750 | GTEM1000 | GTEM1250 | ||||
輸入功率(瓦) | 250/500 | 500/1000 | 600/1200 | 800/1600 | 800/1600 | ||||
EUT 電源插座數量 | 1 | 2 | 2 | 2 | 2 | ||||
外部尺寸(長×寬×高cm) | 115×64×44 | 300×165×110 | 400×220×147 | 500×276×184 | 600×330×220 | ||||
門尺寸(寬×高cm) | 30×23 | 42×40 | 61×61 | 79×79 | 100×100 | ||||
輪子 | 無 | 可選 | 標配 | 標配 | 標配 | ||||
EUT(長×寬×高cm) | 20×20×15 | 40×40×30 | 60×60×50 | 75×75×70 | 100×100×85 | ||||
定義的測試體積±3dB,<1GHz(長 ×寬×高cm) | 15×15×10 | 30×30×15 | 45×45×25 | 60×60×30 | 75×75×42 | ||||
隔板高度(mm)
| 250 | 500 | 750 | 1000 | 1250 | ||||
屏蔽性能 | 10kHz-10MHz：>50dB | 10MHz-20MHz：>100dB | |||||||
連接器 | N 型 | ||||||||
阻抗 | 50Ω | ||||||||
頻率范圍 | 0.1MHz-20GHz | ||||||||
典型駐波比（頻率大5HGZ） | 1：1.2 | ||||||||
重量（公斤） | 80 | 200 | 400 | 650 | 850
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