會議期間，張博士參與了第6工作組關(guān)于顆粒表征—激光衍射法標(biāo)準(zhǔn)13320（2019版）以及第11工作組關(guān)于樣品制備和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的討論。張博士詳細(xì)闡述了顆粒散射光能分布的反常移動及其對粒度分析的影響，分享了真理光學(xué)技術(shù)團(tuán)隊原創(chuàng)的科學(xué)研究和技術(shù)創(chuàng)新成果，這也是中國顆粒表征領(lǐng)域的*次在ISO/TC24/SC4標(biāo)準(zhǔn)討論會上就現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)提出重大意見。

    真理光學(xué)儀器有限公司專注于顆粒測試技術(shù)的開發(fā)和儀器的設(shè)計生產(chǎn)，擁有自主知識產(chǎn)權(quán)，是為數(shù)不多的既有能力從事顆粒表征基礎(chǔ)理論研究又能開展應(yīng)用技術(shù)開發(fā)的儀器公司，已獲得“環(huán)形測量池”，“斜置梯形測量窗口”，“微量進(jìn)樣器”“偏振空間濾波技術(shù)”等多項，并先后推出LT3600系列高速智能激光粒度分析儀，Spraylink實時超高速噴霧粒度分析儀及Nanolink S900納米粒度分析儀，為廣大客戶提供從納米到微米，從固體顆粒到液體霧滴等多種應(yīng)用領(lǐng)域的粒度測量技術(shù)方案。