在磨料粒度測量中，可用顯微鏡用顆粒投影的zui大寬度代表顆粒的大小；沉降法用沉降速度的大小來量度顆粒的大小；庫爾特法（電阻法）用顆粒在電解液中引起的電阻變化來測量顆粒大小；激光粒度儀則用散射（衍射）光斑的大小來量度顆粒的大小。

幾種磨料微粉粒度測量儀器的優(yōu)缺點(diǎn)對比
1.光學(xué)顯微鏡
優(yōu)點(diǎn)：直觀、可靠，同時還可觀察晶形。
缺點(diǎn)：勞動強(qiáng)度大，重復(fù)性差，受人為影響大，不能給出詳細(xì)的粒度分布。
2.美國式沉降管
優(yōu)點(diǎn)：能給出較詳細(xì)的粒度分布，表述方法更加科學(xué)，能直接測量zui粗粒，重復(fù)性較好。
缺點(diǎn)：測量時間長（>=30min），手工記錄和處理數(shù)據(jù)，繁瑣。由于所用樣品量大，濃度高，實(shí)際上已不能滿足Stokes公式的適用條件，故測量結(jié)果與光透沉降法所得結(jié)果相比偏粗，分布偏窄。
3.掃描式光電沉降儀
優(yōu)點(diǎn)：能實(shí)現(xiàn)自動測試，和普通光透沉降儀相比量程擴(kuò)大了近7倍。
缺點(diǎn)：測量時間偏長，操作較繁瑣。
4.顆粒圖像處理儀
優(yōu)點(diǎn)：跟顯微鏡方法相比，它避免了手動測量，認(rèn)為影響大為減小，因此重復(fù)性明顯提高，還能給出詳細(xì)的粒度分布。另外，它能按等面積法給出粒度分布，這是顯微鏡法不可能做到的。
缺點(diǎn)：取樣量少，測量過程還有少量人工干預(yù)。測量時間較長（15-30min）。
5.庫爾特（電阻法）計數(shù)器
優(yōu)點(diǎn)：測試速度快（約1min）；由于是逐個測量，且所測顆粒數(shù)量較大，所以測量精度高，分辨率高。
缺點(diǎn)：單量程測量范圍窄（如2-40μm），小孔管容易堵塞。
6.激光粒度儀
優(yōu)點(diǎn)：測量速度快（<2min），單量程范圍大，操作方便，重復(fù)性好。
缺點(diǎn)：分辨率相對較低。