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半導體參數分析儀RTM2-霍爾源測系統 參考價：面議
半導體參數分析儀RTM2-霍爾源測系統利用半導體參數分析儀RTM2的集成開關矩陣實現無限的精度和穩定性用于片狀、霍爾和電阻張量的測量。
時域熱反射測量系統 （TDTR 測試系統） 參考價：面議
我司新推出的時域熱反射測量系統可用于測量金屬薄膜、塊體或液體的熱導率、界面熱阻等多項熱物性參數，薄膜測量厚度可達納米量級！在微納結構新材料的研發與分析等方面得以...
高效率熒光壽命成像系統 參考價：面議
高效率熒光壽命成像系統或FLIM是基于熒光樣品中不同區域的熒光的指數衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個像素的強度，這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰...
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