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真空環境光譜共焦傳感器

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產品型號LTC-Z

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所  在  地無錫市

更新時間:2025-05-13 11:48:56瀏覽次數:121次

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應用領域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合
真空環境光譜共焦傳感器在工業精密測量領域,面對鏡面、透明材料、復雜曲面及嚴苛環境的挑戰,傳統傳感器常顯乏力。LTC 光譜共焦位移傳感器憑借突破性的光學設計與技術創新,不僅實現了亞微米級精度的穩定測量,更可根據客戶需求定制真空環境專用版本,為半導體、航空航天、高duan制造等領域提供極zhi可靠的測量方案。
  高精度測量新標gan:LTC 光譜共焦位移傳感器 —— 支持真空環境定制化解決方案
 
  引言
 
  真空環境光譜共焦傳感器在工業精密測量領域,面對鏡面、透明材料、復雜曲面及嚴苛環境的挑戰,傳統傳感器常顯乏力。LTC 光譜共焦位移傳感器憑借突破性的光學設計與技術創新,不僅實現了亞微米級精度的穩定測量,更可根據客戶需求定制真空環境專用版本,為半導體、航空航天、高duan制造等領域提供極zhi可靠的測量方案。
 
  真空環境光譜共焦傳感器的核心優勢:重新定義精密測量標準
 
  1. 極zhi精度,全場景適配
 
  超高重復精度與線性精度:部分型號重復精度可達 3nm,線性誤差低至 ±0.03μm,遠超傳統激光傳感器,滿足納米級精度要求。
 
  多光斑智能切換:提供小光斑(φ1.7μm)、大光斑及四光點式光斑,適配微小目標物(如芯片引腳)、粗糙表面及復雜輪廓測量,有效抑制表面凹凸干擾。
 
  超大測量角度:支持 ±60° 測量角度,無需嚴格對準被測物,對深孔、凹坑、曲面實現無si角檢測。
 
  2. 抗干擾能力強,復雜環境穩定輸出
 
  共焦光學設計:通過針孔濾除雜光,僅聚焦位置的單色光被接收,抗環境光干擾能力卓yue,在強背光、多光源場景下仍保持數據穩定。
 
  透明 / 鏡面材料友好:同軸共焦光路設計解決傳統激光傳感器在透明介質(如玻璃、晶圓)或鏡面表面的光斑偏移問題,實現高度變化時測量點無偏差。
 
  3. 超快響應,高效生產賦能
 
  最高 10kHz 采樣頻率:實時捕捉高速運動物體(如高速旋轉工件、生產線動態檢測),確保動態測量無延遲。
 
  多接口兼容:標配 USB、RS485、以太網、模擬量等 6 種 I/O 通道,支持 PC 端軟件、PLC 總線、編碼器同步觸發,無縫集成至自動化產線。
 
  4. 真空環境定制:突破極限環境約束
 
  特殊材料與密封設計:針對真空(10??Pa 級)、高低溫(-20℃~+80℃)、高潔凈等極duan環境,采用全金屬密封探頭、抗揮發涂層及真空兼容光學元件,確保長期穩定運行。
 
  行業專屬解決方案:適用于半導體晶圓制造(真空腔體內厚度檢測)、航空航天部件真空環境測試、OLED 面板真空貼合精度校準等場景,定制版本經嚴格真空環境測試,性能零衰減。
 
  技術原理:光譜共焦,光與距離的精準映射
 
  采用白色點光源經色散共焦探頭,不同波長光聚焦于不同距離,形成 “光學位移標尺”。被測物反射光通過同軸光路返回,經針孔篩選后由光譜儀解析波長分布,通過波長 - 位移轉換曲線實時計算距離變化。該原理避免了傳統三角測量法的角度依賴性,對傾斜、曲面、透明介質實現無偏差測量。
 
  產品矩陣:多元型號滿足差異化需求
 
  應用領域:精密制造的全能助手
 
  半導體與電子:晶圓厚度 / 平整度檢測、芯片封裝高度測量、PCB 焊盤共面性分析。
 
  光學與顯示:手機玻璃曲面 R 角測量、OLED 面板厚度均勻性檢測、鏡頭曲率高精度校準。
 
  航空航天:發動機葉片型面檢測、航空部件真空環境變形監測、涂層厚度非接觸測量。
 
  科研與計量:材料表面粗糙度分析、微納米器件位移標定、生物醫學細胞顯微測量。
 
  定制服務:從標準到專屬的精準適配
 
  真空環境適配:提供探頭密封性強化、真空兼容線纜、抗熱脹冷縮結構設計,支持 10?³Pa~10??Pa 真空度定制。
 
  特殊接口開發:根據客戶需求定制 EtherCAT、Profinet 等工業總線,或集成至特定自動化系統。
 
  光路定制:支持軸向 / 徑向出光模式、多探頭陣列集成,滿足復雜工位的多角度同步測量。
 
  結語
 
  LTC真空環境光譜共焦傳感器以 “高精度、高適應、高可靠” 重塑精密測量體驗,真空環境定制版本更打破環境限制,成為極duan工況下的首xuan方案。無論是常規產線的高效檢測,還是真空腔體內的極限挑戰,LTC 始終以技術創新推動工業測量邁向新維度。
 
系列 測量范圍 典型精度 光斑類型 特色應用
C100B/C400 ±0.05mm~±0.2mm 3nm~12nm 微米級小光斑 手機曲面 R 角、精密電子元件
C2000/C3000 ±1mm~±1.5mm 85nm~100nm 中光斑 / 四光點式 金屬工件輪廓、PCB 高度差
C10000/C50000 ±5mm~±25mm 250nm~850nm 大光斑 結構件平面度、液膜厚度檢測
真空定制版 定制化范圍 亞微米級精度 全光斑類型兼容 真空腔體、高潔凈環境測量
 
 

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