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CPS納米粒度分析儀差示離心沉降原理帶來的優(yōu)勢

閱讀：910      發(fā)布時間：2021-6-3
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　　CPS納米粒度分析儀，有別于傳統(tǒng)方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細(xì)區(qū)分提供新的解決方案
 
　　這種原理有以下幾點優(yōu)勢：
 
　　分辨率高：
 
　　同激光散射和顆粒計數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。對于只有 1%的顆粒差異分布的時候，該方法測定的結(jié)果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身，而不是分布顆粒的混合圖。
 
　　靈敏度高：
 
　　低至 10-8 g 的樣品就可以滿足日常分析需要。
 
　　重復(fù)性高：
 
　　樣品結(jié)果在95%的典型置信度下，連續(xù)重復(fù)分析峰的重復(fù)性小 于+/-1% 或更好。
 
　　快速、高精度數(shù)模(A/D)轉(zhuǎn)換:
 
　　可用信號分辨率(即軟件操作的對象)決定于  數(shù)模轉(zhuǎn)換的過程。CPS系統(tǒng)使用的數(shù)模  轉(zhuǎn)換  可以實現(xiàn)在每秒31次取樣時保持20位以上的精  度，幾百萬分之一的誤差。

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