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　　顆粒的大小稱作粒度，顆粒的直徑稱做粒徑。通常用粒徑來表示粒度。粒度測量儀可以利用顆粒對激光的散射特性作等效對比，可快速有效測量粒徑，采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在短的焦距獲得大量程，有效提高儀器的分辨能力對小顆粒有測試能力，是工廠、研究所、高等院校等機構進行相關粒度測試的理想選擇。

　　粒度測量儀的測量原理：

　　工作原理是基于夫朗和費（Fraunhofer）衍射和米（Mie）氏散射理論相結合。物理光學推論，顆粒對于入射光的散射服從經典的米氏理論。米氏散射理論是麥克斯韋電磁波方程組的嚴格數學解，夫朗和費衍射只是嚴格米氏散射理論的一種近似。適用于當被測顆粒的直徑遠大于入射光的波長時的情況。夫朗和費衍射假定光源和接收屏幕都距離衍射屏無窮遠，從理論上考慮，夫朗和費衍射在應用中要相對簡單。

　　低能源半導體激光器發出波長為0.6328微米的單色光，經空間濾波和擴束透鏡，濾去雜光形成直徑可達10mm的平行單色光束。該光束照射測量區中的顆粒時，會產生光的衍射現象。衍射光的強度分布服從夫朗和費衍射理論。在測量區后的付立葉轉換透鏡是接收透鏡（已知透鏡的范圍），在它的后聚焦平面上形成散射光的遠磁場衍射圖形。在接收透鏡后聚焦平面上放置一多環光電檢測器，它接收衍射光的能量并轉換成電信號輸出。檢測器上的中心小孔（中央檢測器）測定允許的樣品體積濃度。在分析光束中的顆粒的衍射圖是靜止的并集中在透鏡光軸的范圍。因此顆粒動態的通過分析光束也沒有關系。它的衍射圖在任何透鏡距離總是常數。

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