A3-SR-100反射式膜厚測量儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏 ITO 等鍍膜厚度，PET 柔性 涂布的膠厚等厚度，LED 鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。A3-SR-100 可用于測量 10 納米到 100 微米的膜厚，測量精度達到 0.1 納米。 在折射率未知的情況下，A3-SR-100 還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。此外，A3-SR-100還可用于精確測量樣品 的顏色和反射率。樣品光斑在 1 毫米以內。

A3-SR-100反射式膜厚測量儀進行測量簡單可靠，實際測量采樣時間低于 1 秒。配合我們的 Apris SpectraSys 軟 件進行手動測量，每次測量時間低于 1 秒。Apris SpectraSys 支持 20 層膜以內的模型并可對 多層膜厚參數進行測量。Apris SpectraSys 軟件還擁有近千種材料的材料數據庫，同時支持 函數型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型 （Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。 同時，客戶還可以通過軟件自帶數據庫對材料，菜單進行管理并回溯檢查測量結果。

配手持式探頭,A3-SR-100可以用來一鍵式測量車燈罩表面硬化膜(包括過渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量內飾件,外飾件的鋁陽極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um。

A3-SR-100系統參數：

1.產品尺寸： W270*D217*（H90+H140）mm  

2.測試方式：可見VIS 反射(R)          

3.波長范圍:380nm - 1050 nm

4.光源: 進口 鎢鹵素燈 壽命10000小時  

5.光路和傳感器:光纖式(FILBER,進口 )+進口光譜儀  

6.入射角:0 度 (垂直入射)  (0 DEGREE)

7.參考光樣品: 硅片  

8.光斑大小：About 1 mm（標配，可以根據用戶要求配置）

9.樣品大?。?0 mm TO 300 mm (可以根據用戶要求配置)

10.測試方式：反射