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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
菲希爾Fischer測厚儀Dualscope FMP40
DUALSCOPE FMP40菲希爾測厚儀是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數據采集設備。DUALSCOPE FMP40菲希爾測厚儀存儲容量多達1,000數據組的10,000個測量數據，帶動態存儲分配能力。100個測量應用的內存可用于存儲校準和相關的測量數據。
DUALSCOPE FMP40菲希爾測厚儀使用Fischer的智慧型測量探頭ED10，Dualscope FMP40菲希爾測厚儀會自動檢測出基體的材料并應用合適的測試方法：渦流法或電磁感應法。Fischer測厚儀Dualscope FMP40能自動識別不同的探頭。應用程式特定的校準參數儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。
菲希爾Dualscope FMP40產品特點：
根據磁感應法和(或)電渦流法無損測量涂鍍層厚度。
● Dualscope FMP40自動識別探頭和基材。
● 堅固的外殼及高對比度大尺寸圖形顯示器。
● 儀器操作簡單，具備多種統計評估能力。
● USB接口可以連接計算機，FMP30-40 還可以連接打印機。
● 創新的探頭技術使得測量準確，測量范圍更廣。
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