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菲希爾涂層測厚儀Fischer XDV-u鍍層厚度測量儀特點
優(yōu)化的微區(qū)分析測試儀器
菲希爾涂層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP根據X射線光學系統(tǒng)，可以對100 μm或更小的結構進行分析
能量強度，從而實現出色的精度
即使對于薄鍍層，測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
菲希爾涂層測厚儀Fischer代理只適用于平面的或是接近平面的樣品
底部C型開槽的大容量測量艙
菲希爾涂層測厚儀通過快速、可編程的 XY 工作臺進行自動測量
XDV-u鍍層厚度測量儀典型應用領域
菲希爾涂層測厚儀測量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)
菲希爾涂層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP測量細小部件和細電線上的鍍層系統(tǒng)
分析微小結構和微小部件的材料成分
菲希爾Fischer
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