Fischer鍍層測(cè)厚儀菲希爾

X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和 Z 軸升降臺(tái)，用于自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線鍍層測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它特別適用于測(cè)量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)，是全自動(dòng)測(cè)量樣品的理想設(shè)備。

XDV-SDD菲希爾X射線鍍層測(cè)厚儀設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。它配備了高精度、可編程運(yùn)行的X/Y軸工作臺(tái)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸升降臺(tái)。當(dāng)具有防護(hù)功能的測(cè)量門開啟時(shí)，樣品臺(tái)能自動(dòng)移出到放置樣品的位置。通過(guò)激光點(diǎn)，可以快速對(duì)準(zhǔn)需要測(cè)量的位置。儀器內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng)，簡(jiǎn)化了樣品放置的過(guò)程，并可對(duì)測(cè)量點(diǎn)位置進(jìn)行精確微調(diào)。