FISCHERSCOPE X-RAY XDL210代理

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210菲希爾X射線測厚儀又名X 射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210菲希爾X射線測厚儀比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

無錫駿展儀器供應菲希爾X射線測厚儀XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。

菲希爾X射線測厚儀XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。