菲希爾X-RAY XUV

菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應特性：

● 檢出限低、重復精度高，以及測量適用性廣，因此特別適用于研究和開發使用

● 配備真空測量室和高性能硅漂移探測器，能夠實現精確測量，尤其是對輕元素的測試

● 通過可編程 X、Y 和 Z 軸進行自動測試

● 準直器和濾波器可切換，因此可適用于各種材料和測試條件

菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應應用：

涂層厚度測量

● 原子序數從Na（11）開始的輕元素鍍層，可測量厚度低至納米級

● 鋁鍍層和硅鍍層

菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應材料分析

● 測定寶石的真偽與原產地

● 常規材料分析和取證

● 高分辨率痕量分析