FISCHERSCOPE XDL210 X射線

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。

XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應用領域有：

?測量大規模生產的電鍍部件

?測量薄鍍層，例如裝飾鉻

?測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

?全自動測量，如測量印刷線路板

?分析電鍍溶液

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。