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FISCHERSCOPE X-RAY XDL210代理

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210菲希爾X射線測(cè)厚儀又名X 射線熒光光譜儀，采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，測(cè)量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210菲希爾X射線測(cè)厚儀比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。多可同時(shí)測(cè)量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。