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泰勒霍普森代理粗糙度儀Surtronic S128

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泰勒霍普森粗糙度儀技術指標：

Surtronic S128測量范圍：200 um 100 um 10 um

Surtronic S128分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm

Surtronic S128底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm

重復精度 (Ra) ：1%測試值+底噪

傳感器原：電感

測量力：150-300mg

測針針尖半徑：標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測試方式：滑動掃描

校準：

自動軟件校準   標準：ISO4287

無錫駿展儀器有限責任公司的產品和系統解決方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設、大學和其他研究實驗室和生產線,質量控制,和教育事業,以評估的幾何特征的材料,組件和結構和理化性質,*制造技術的驅動精益求精。