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掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）,簡稱掃描電鏡，是功能強、用途廣的材料表征工具，已廣泛應用于材料，冶金，礦物，生物學等領域。掃描電子顯微鏡主要由五大系統組成，即電子光學系統、信號探測處理和顯示系統、樣品室、真空系統、電源供給系統。

1 電子光學系統

由電子槍，電磁透鏡，掃描線圈和樣品室等部件組成。其作用是用來獲得掃描電子束，作為信號的激發源。為了獲得較高的信號強度和圖像分辨率，掃描電子束應具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。

2 信號收集及顯示系統

檢測樣品在入射電子作用下產生的物理信號，然后經視頻放大作為顯像系統的調制信號。現在普遍使用的是電子檢測器，它由閃爍體，光導管和光電倍增器所組成。

3 樣品室

主要部件是樣品臺。它能夾持一定尺寸的樣品，并能使樣品進行三維空間的移動，還能傾斜和轉動,以利于對樣品上每一特定位置進行各種分析。

4 真空系統

真空系統的作用是為保證電子光學系統正常工作，防止樣品污染，一般情況下要求保持10-4~10-5Torr的真空度。

5 電源系統

電源系統由穩壓，穩流及相應的安全保護電路所組成，其作用是提供掃描電鏡各部分所需的電源。