在材料顯微結構表征方面，電子顯微鏡（包括SEM、FIB、TEM）有著特別的優勢，在科學研究，工業領域等作用日益增長。為了有效推動電子顯微鏡表征技術的發展，深入了解不同電子顯微鏡的性能特點，充分發揮儀器功效，提高廣大用戶的分析測試水平及解決實際使用中的難題，賽默飛將在2023年舉辦“中國好電鏡”系列研討會，特別邀請國內著名的專家學者和賽默飛資深電鏡應用科學家與大家交流前沿電鏡表征技術。
掃描/透射電子顯微鏡（S/TEM）可以對材料的結構進行直接成像，能在原子尺度上建立材料的性質與其局域結構之間的相關性。雖然高分辨率 TEM 和 STEM是大多數材料結構的常規表征手段，但由于電子束敏感材料（如典型的多孔材料分子篩、金屬有機骨架(MOFs)、共價有機骨架(COFs)等）極端的不穩定性，以常規方式觀察它們的局域結構仍然是一個極大的挑戰。電子束敏感材料對電子束輻照極為敏感，在常規S/TEM成像模式下，其結構會被立即破壞變為非晶，從而無法得到其局域結構的原子排列信息。因此，如何在無損傷的條件下以高分辨率和高信噪比在實空間中對典型的電子束敏感材料的結構直接成像是TEM和STEM技術應用的難點。
本次研討會特別邀請清華大學陳曉老師為大家從原子尺度解析多孔材料分子篩局域結構及主客體相互作用，分享其使用超低電子劑量高分辨電子顯微技術在電子束敏感多孔材料結構表征中的成功案例。同時邀請賽默飛透射電鏡應用科學家劉蘇亞博士為大家直播演示如何在球差校正透射電子顯微鏡Spectra 300平臺上對電子束敏感多孔材料進行超低電子劑量下原子尺度直接成像。
其研究方向主要是發展多孔材料低劑量原子尺度成像方法，致力于分子篩中單分子成像以及主客體相互作用的直接觀測，以期從分子層面甚至是原子層面理解和探索這些化學反應過程中的分子進出機制以及客體分子與主體骨架間的作用行為。目前已發表文章50余篇，其中（共同）第一作者/通訊作者12篇，包括 Nature（3篇）、Science（1篇）、Nat. Commun.（4篇）、Adv. Mater.（1篇）、JACS（1篇）等。其中“A single molecule van der waals compass”（Nature. 592, 541(2021)）的工作入選 2021 年度“中國高等學校十大科技進展”，獲得第三屆中國分子篩新秀獎、2022 年度清華大學優秀博士后，入選2022年度中國區“35歲以下科技創新35人”榜單。
摘要
多孔材料由于其特殊的孔道結構成為了催化、分離、醫藥等多個領域不可替代的原材料，分子篩作為典型的多孔材料在石油化工、煤化工裂解、異構化、芳構化及烷基化等反應中同樣發揮著不可替代的作用。因此從分子層面甚至是原子層面理解和探索這些化學反應過程中的分子進出機制以及客體分子與主體骨架間的作用行為對于理解和認識這些工業化背后的微觀行為尤為關鍵，尤其是工況服役狀態下的催化劑的本征行為至關重要。該報告將以分子篩催化劑為研究對象，尤其是對工業化中應用最為廣泛的ZSM-5進行了系統的研究。首先研究了在超低電子劑量的條件下研究分子篩亞納米尺度局域結構解析和原位觀察限域分子動態行為的方法，在常溫甚至是高溫的條件下“冷凍”分子，觀測了單分子進出孔道的行為，研究限域小分子動態行為和主客體相互作用以及這類折形分子篩中單個芳烴分子的轉動行為、加入氫鍵力作用后定量化了分子在孔道中的作用方式，在原位觀測分子進出孔道的基礎上解決了60年來困擾科研人員分子篩篩分比孔道稍大點的分子的微觀機制。在不斷對分子篩有深入理解的過程中希望能夠為十萬億產值的工業化過程提供新的見解。
2019年畢業于浙江大學材料科學與工程專業，主攻非晶合金的結構表征及相關應用。同年入職賽默飛世爾科技，主要從事透射電鏡的應用支持工作，擁有十余年的電鏡使用經驗。
參與福利
直播最后還將進行抽獎環節，隨機挑出5名在線觀眾，送上賽默飛的定制禮品“雙飲隨手玻璃杯”一個。
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