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首頁>>大連創銳光譜科技有限公司>>產品展示>>半導體光學檢測系列>>SiC襯底位錯缺陷無損檢測系統

  • 碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統 參考價：面議

    碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統：最高檢測速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識別。
    型號： 廠商性質：生產商所在地：大連市 對比
    SiC襯底位錯缺陷無損檢測無損檢測儀碳化硅成像檢測碳化硅襯底檢測
    2025/5/7 9:33:201712
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