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“Thermal-F1"是熱發射顯微鏡的第二代產品
PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光顯微鏡,通過偵測半導體缺陷引起的微弱的光發射和熱發射來準確定位半導體器件的失效位置
iPHEMOS-MP倒置微光顯微鏡是一款半導體失效分析系統,通過檢測半導體裝置缺陷引起的微弱的光發射和熱發射來準確定位半導體器件的失效位置
iPHEMOS-DD倒置微光顯微鏡是一款半導體失效分析系統,通過檢測半導體裝置缺陷引起的微弱的光發射和熱發射來準確定位半導體器件的失效位置
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