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珀金埃爾默ICP-OES 微波制樣方案滿足危害性物質限制指令要求

閱讀:349      發布時間:2019-02-18
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  簡介
 

  隨著人們對電子產品的依賴程度越來越高,各大廠商開始不斷開發具有新功能的產品,這使得消費者日趨頻繁
 

  地對電子產品進行更新換代,電子產品的壽命也變得越來越短,而這也導致需要處理的廢棄電子產品數量不斷上升,盡管人們已經開始實施并大力推廣電子產品回收計劃。
 

  電子產品中包含許多組件,一旦被丟棄,產品中的金屬極可能會進入環境中。其中令人擔憂的有毒金屬包括鎘(Cd)、鉻(Cr,主要是六價鉻[CrVI])、汞(Hg)  和鉛(Pb)。為了解決這一問題,危害性物質限制(RoHS)指令規定了鎘、六  價鉻、汞和鉛在每種電子設備中允許存在的含量,為了達到 RoHS 指令要求,是簡單也是的方法是使用微波消解制樣,并使用全譜直讀等離子體發射光譜儀
 

  (ICP-OES)進行分析。盡管 ICP-OES 不連接液相色譜儀無法區別元素的不同形態,但是它能夠測量鉻的總含量, 以確定其是否超過規定水平。如果超過限值,則可以進一步制樣,并采用其他技術手段分析樣品,終確定六價 Cr 的含量。
 

  本文將重點關注如何使用 Avio 200 ICP-OES分析電子產品中的多種樣品類型,以確保符合 RoHS 指令要求,以及制樣注意事項。

提供商

珀金埃爾默企業管理(上海)有限公司

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