導熱硅脂熱導率測試（ASTM D5470）

由于集成電路的快速發展，電子元器件向輕、薄、小的方向發展，其散熱量也隨之增加，因此需要更高導熱的材料，導熱硅脂可廣泛涂覆于各種電子產品，用于功率放大器、晶體管、電子管、CPU等電子元器件的導熱及散熱，從而保證電子儀器、儀表等的電氣性能的穩定，所以測量導熱硅脂的導熱系數顯得尤為重要。

本文使用基于ASTM D 5470-2017研制的TC2200熱流計法導熱儀，對不同初始溫度下某導熱硅脂的導熱性能進行了評估。實驗測定了25℃、35℃、45℃下某導熱硅脂的導熱系數。

1.樣品準備

樣品：某導熱硅脂

2.測試條件

測試溫度：25℃，35℃，45℃

測試儀器：TC2200熱流計法導熱儀，樣品框

測試方法：熱流計法

圖1 TC2200熱流計導熱系數儀

圖2樣品框

3.測試結果

圖3 不同溫度下的導熱硅脂導熱系數