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XRD技術透視NMC 811高性能奧秘

來源:賽默飛世爾科技智能制造與過程分析   2025年01月02日 16:06  

LiNi0.8Mn0.1Co0.1O2 (NMC 811) 的性能標準和結構精修

?ARL X'TRA Companion X 射線衍射系統


LiNi0.8Mn0.1Co0.1O2 (NMC 811) 是目前NMC型材料中性能最好的一種高能量密度陽極材料。NMC 811對鋰離子電池的性能起著至關重要的作用,對電動汽車和儲能系統來說尤其如此。NMC 811的結構完整性和相組成對其電化學性能(包括容量、穩定性和壽命)具有顯著影響。X光衍射 (XRD) 是對NMC 811進行全面結構分析不可或缺的工具,可幫助我們深入了解其晶相、晶格參數和潛在結構缺陷。

 

NMC晶體為六方對稱的層狀α-NaFeO2

 

結構類型

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盡管NMC材料相比之前的材料有了顯著改進,但仍存在兩個顯著缺點:容量衰減嚴重,以及高倍率(C rate)下充放電速率能力差。其根本原因在于:1)電導率低;2)Li+和 Ni2+的反位混合;3)副反應導致的氧損失。

 

通過某些衍射強度與晶格參數之間的比值,可以得出有意義的性能指標。鋰離子的高遷移率取決于六方a-b平面的強長程有序性。R-因子 (R = (I006+I102)/I101) 能很好地指示這種有序性。

 

此外,通過I003/I104比值可以評估Li-Ni反位混合,若該比值大于1.2且c/a > 4.9,則表明反位混合率低 (< 2%),因此不再影響電化學性能。1對粉末衍射數據進行Rietveld結構精修,可獲得有關結構的詳細信息,包括鍵長、層間距、占位率或位移參數,這些信息對于材料的詳細結構分析至關重要。

 

利用XRD的功能,研究人員和行業專業人士就能更深入地了解NMC 811的結構特性,從而提高材料性能,推動更高效電池技術的發展。

 

儀器和軟件

 

 

Thermo Scientific™ ARL™ X'TRA Companion XRD 系統(參見圖1)是一款簡單易用的臺式XRD儀器,適用于常規相分析以及更高級的應用。

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圖1.ARL X'TRA Companion衍射系統

 

產品亮點

圖片ARL X'TRA Companion XRD系統采用Bragg-Brentano幾何結構的θ/θ聯動測角儀(半徑160 mm),并配有600 W X射線源(銅或鈷靶)。
圖片該系統通過發散和索勒狹縫控制束流的徑向和軸向準直,同時通過可變束刀來減少空氣散射。
圖片可選配集成式水冷卻機。
圖片由于采用了先進的固態像素探測器(55×55 µm間距),ARL X'TRA Companion儀器的數據采集速度極快,并具備一鍵式Rietveld定量功能,還可將結果自動傳輸至Thermo Scientific™ SolstiX™ Pronto儀器控制軟件中無縫集成的LIMS(實驗室信息管理系統)中。

 

 

 

01.

實驗

使用Co Kα(1.790915 Å)輻射,在反射模式下對來自MSE Supplies® LLC的LiNi0.8Mn0.1Co0.1O2樣品進行了10分鐘(5-90°2θ)(參見圖2)和60分鐘(10-143°2θ)測量。通過旋轉樣品和電子光子能量過濾來進行數據采集,以減少樣品熒光。使用Profex軟件(BGMN)程序,通過輪廓擬合得出強度,并對所有結構參數進行Rietveld精修。2使用Arai等人發布的NMC 811結構3作為初始模型。對總公式施加了約束,并使用各向異性原子位移參數(ADP)對Li-Ni反位混合(僅TM、O位點;Li位點各向同性ADP)進行精修。輪廓擬合基于BGMN的基本參數方法。

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圖2.對LiNi0.8Mn0.1Co0.1O2進行測量(10分鐘)。(點擊查看大圖)

 

 

02.

結果與討論

LiNi0.8Mn0.1Co0.1O2樣品為純相。使用10分鐘測量數據進行擬合,確定了強度和晶格參數。結果顯示I003/I104= 1.37,c/a= 4.94,R= 0.46,因此符合高性能材料的標準。

 

使用60分鐘掃描對結構參數、鋰鎳混合和各向異性ADP(參見圖3)進行了精修。各向異性ADP的大小和方向與層狀化合物的預期振動矢量非常相似。與NMC 811(含3.6%反位混合)的文獻值相比4,其占位率、層間距和厚度相似,但層間距壓縮(4.732 Å和4.695 Å),層間距離縮短(2.599 Å和2.592 Å)。除Li+的離子半徑 (0.76 Å) 和Ni2+的離子半徑 (0.69 Å) 差異外,還有更多參數影響著原子間距。合成過程中,可能出現不同數量的O空位,此處未進行評估。晶格參數5的差異在3σ區間內不顯著。

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圖3.LiNi0.8Mn0.1Co0.1O2(黑色)的Rietveld精修結果與Wang等人4(橙色)的結果對比;ADP顯示為99%的概率。(點擊查看大圖)

 

本文結論

 

ARL X'TRA Companion XRD系統在10分鐘內測量的數據非常適合確定一般性能標準。使用60分鐘掃描至143°的高2θ角,可對占位和各向異性ADP實現更深層次的結構精修。結果與具有不同反位混合的同類材料相當。

 

 


參考文獻

[1] Z. Chen, J. Wang, D.Chao, T. Baikie, L. Bai, S. Chen, Y. Zhao, T. C. Sum, J. Lin, Z. Shen, Sci. Rep.2016, 6, 25771.

[2] N. Doebelin, R. Kleeberg, J. Appl. Crystallogr.2017, 48, 1573-1580.

[3] H. Arai, M. Tsuda, Y. Sakurai, J. Power Sources 2000, 90, 76-81.

[4] T. Wang, K. Ren, W. Xiao, W. Dong, H. Qiao, A. Duan, H. Pan, Y. Yang, H. Wang, J. Phys. Chem. C 2020, 124, 5600-5607.

[5] J. Li, G. Liang, W. Zheng, S. Zhang, K. Davey, W. K. Pang, Z. Guo, Nano Mater. Sci. 2023, 5, 404-420.

 

 

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