菲希爾熒光測厚儀 XULM240 基于 X 射線熒光光譜分析原理來測量鍍層厚度，具體如下：

X 射線激發：儀器中的微聚焦 X 射線管產生高強度的 X 射線束，當 X 射線照射到被測樣品表面時，會激發樣品中的原子。對于鍍層和基體材料，由于它們的原子種類不同，原子結構也存在差異。

熒光產生：被激發的原子會從高能級躍遷到低能級，同時輻射出具有特定能量和波長的 X 射線熒光。不同元素發出的熒光 X 射線具有特的能量特征，就像人的指紋一樣，是每種元素所有的。例如，金元素發出的熒光 X 射線能量與銅元素、鎳元素等發出的能量是不同的。

測量與分析：探測器收集并測量這些熒光 X 射線的能量和強度。根據不同元素熒光 X 射線的能量可以確定樣品中存在的元素種類，而熒光 X 射線的強度則與該元素在樣品中的含量有關。對于鍍層厚度的測量，通過測量鍍層元素和基體元素熒光 X 射線的強度，并與已知厚度的標準樣品進行對比，再利用特定的算法和校準曲線，就可以精確計算出鍍層的厚度。

這種測量原理具有非接觸、無損的優點，能夠快速、準確地測量各種材料表面的鍍層厚度，并且可以同時分析多種元素，適用于不同類型的鍍層和基體材料組合，在工業生產和質量控制中具有廣泛的應用。