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【高斯摩分享】什么是X射線熒光光譜儀?

來源:高斯摩(成都)國際貿易有限公司   2025年05月21日 08:35  

1.1 定義

XRF通過測量樣品受X射線激發后發射的特征熒光X射線,實現元素成分定性與定量分析,適用于金屬、礦物、塑料等材料。

1.2 工作原理

  • 激發源:X射線管(Rh靶)或放射性同位素(如Co-57)。

  • 能量色散(EDXRF):硅漂移探測器(SDD)分辨元素特征能量。

  • 波長色散(WDXRF):分光晶體分離不同波長,精度更高。

1.3 技術參數

參數典型值
元素范圍Be(4)~ U(92)
檢測限ppm級(重金屬元素)
分析速度10~300秒/樣品
樣品室尺寸可容納直徑300 mm樣品

1.4 應用場景

  • RoHS檢測:電子元件中Pb、Cd、Hg等有害元素篩查。

  • 地質勘探:礦石中金屬元素品位快速評估。

  • 鍍層分析:測量電鍍層厚度(如Zn鍍層0~50 μm)。

1.5 選型指南

  • 臺式 vs 便攜:實驗室分析選臺式(如Shimadzu EDX-7000),現場檢測選手持式(如Olympus Vanta)。

  • 真空系統:輕元素(Na、Mg)檢測需真空或氦氣環境。

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