OpTest®更專業的通用光學成像測量與評價系統：Optikos OpTest®光學測量與測試系統

無論您設計什么，都可以使用 OPTEST®系統進行測量 

OpTest鏡頭測量系統集成了光學和光機工程領域的新技術與創新。市場上的其他產品通常基于通用的現成實驗室組件制造其系統，而Optikos解決方案的每一步都是量身定制的。OpTest系統由Optikos工程師專門為鏡頭測試設計的定制光學、機械和電子組件組成。

Optikos提供全面的鏡頭測試產品線。通過升級路徑和模塊，可擴展OpTest的測試能力，包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外線測試等測量。

量身定制，滿足您的需求

Optikos不僅根據您的即時需求構建光學測試系統，還為您提供簡單的升級路徑，以適應需求的化。Optikos 的解決方案為您提供了技術和經濟雙重優勢：隨著您的應用或業務發展，系統不會過時；它足夠靈活，能夠滿足您現在和未來的需求。

在眾多產品中，選擇適合您需求的組件至關重要，這些組件將為您提供靈活性。在接下來的光學測試部分中，您將了解到一系列產品，它們可以協同工作，以滿足您的應用需求。通過描述和圖示，我們將解釋每款產品如何用于構建完整的系統。量系統提供的解決方案，每一步都是定制化的。OpTest®融合了光學和光機工程領域的新技術與創新結果，由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設計的定制光學元件、機械部件和電子元件組成，進而提供全面的鏡頭測試產品線，并提供升級方案和模塊，可擴展OpTest®計量功能，包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外先測試等測量項目。

Optikos OpTest®光學測量與測試系統可構建的光學系統測量方案 

OpTest® 系統的模塊化組件，通過適當的配置可適合測試大多數類型的鏡頭。 選擇和配置適合被測光學系統的模塊需要明確被測光學系統的使用方式，包括：

1.    物與像的共軛位置關系
2.    光譜范圍
3.    空間分辨率
4.    物與像的尺寸以及系統的視場大小
5.    瞳孔直徑、f/數（光圈值）、數值孔徑
6.    外觀尺寸和光學系統布局    

1) 物像共軛位置：大多數光學系統可分為三類：

2)  光譜范圍：OpTest® 系統支持圖像分析儀，可以在從UV 到LWIR波長范圍內工作。

3)  空間分辨率：由所有光學系統在成像能力上都受到空間分辨率的限制。其中一個基本限制源于光的波動性。當光的波動性限制光學系統的性能時，系統具有“衍射極限”分辨率。光學系統的性能也可能受到系統設計或制造精度的限制。光學測試系統的分辨率必須遠小于被測系統的分辨率。測試系統中的圖像分析儀還必須具有足夠的分辨率，以分析被測光學系統形成的圖像。

對于無限和有限共軛系統，空間分辨率以每毫米線對數（line-pairs per millimeter）表示。對于無焦系統，空間分辨率以每毫弧度周期數（cycles per milliradian）表示。

4）圖像和物體物體的大小及系統視場：測試系統必須能夠覆蓋被測系統在物方空間和像方空間的視場（FOV）。對于無限共軛系統，測試系統必須覆蓋物方空間的角視場以及全視場像高的線性尺寸。對于有限共軛測試，平移臺必須能夠覆蓋整個物高和像高，并設置所需的物距。對于測試無焦系統，需要跨越物方空間和像方空間的角視場。

5）光學直徑、F/數和數值孔徑：測試系統必須能夠在被測系統在物方空間覆蓋的被測系統的入瞳，并收集來自整個出瞳的光。對于被測的無限共軛和無焦系統，入瞳直徑設定了物方空間所需準直光束的下限。像方空間的要求由無焦系統的出瞳直徑決定，而在測試無限或有限共軛系統時，光圈值(F/number)或數值孔徑(NA)是相關的。

6）外觀尺寸和系統布局：一個OpTest® 系統需要一個光學臺來放置系統組件，并采用折疊光路。被測光學系統可能體積龐大，或包含折疊光路及其它特殊的物理特性。OpTest® 系統要求該平臺上有中心距為
1英寸中的 ?”-20 螺紋孔 或中心距為25mm的M6螺紋孔。